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高低温冲击试验箱(两箱式/提篮式)
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光电器件行业首选温度冲击试验箱

文章来源: 发布时间:2017-04-22 09:53:37 浏览次数:1162

产品用途:

两箱式温度冲击试验箱说明:为了仿真不同电子构件,在实际使用环境中遭遇的温度条件,改变环境温差范围及急促升降温度改变,可以提供更为严格测试环境,缩短测试时间,降低测试费用,但是必须要注意可能对材料测试造成额外的影响,产生非使用状态的破坏试验。

产品特点
规范试验条件:
a.可设定冲击温都范围
b.满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求
c.可设定依据待测品温变率控制
d.试验结束待测品回常温避免结霜结露技术
e.采用铝片验证机台负载能力(非塑料负载)
f.进行两箱冲击时测试区湿度符合规范要求
g.可执行低温0度冲击并省电
创新&特色:
a.单一机台可执行RAMP(设定温变率)、三箱(过常温)、两箱(高低温冲击)冲击试验(一机三用)
b.可试验待测品负载数量大
c.需除霜循环数高(500cycle除霜一次),缩短试验时间与电费
d.传感器放置测试区而非风道口符合实验有效性
控制系统
a.内建双向USB2.0随身碟储存接口(可拷贝试验曲线与加载试验程序)
b.完整实时试验曲线分析显示,无时间限制
c.可与e化管理系统进行整合监控

名称

型号

温度范围

内容积

温变速率

提篮式冷热冲击箱

LS-TCT-40系列

冲击温度-40~150

27L64L125L

温度恢复时间:3分钟以内

LS-TCT-50系列

冲击温度-55~150

LS-TCT-60系列

冲击温度-65~150

三厢式冷热冲击箱

LS-TS-40系列

冲击温度-40~150

49L80L150L

温度恢复时间:5分钟以内

LS-TS-50系列

冲击温度-55~150

LS-TS-60系列

冲击温度-65~150



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